测厚仪
测厚仪(yi)是一(yi)(yi)种高精度(du)的测量设(she)备，专门(men)用于测定各种薄膜、薄片、纸张(zhang)、箔(bo)片等(deng)材料的厚度(du)。这类仪(yi)器在(zai)包装、塑料、造纸、电(dian)子、半导(dao)体(ti)等(deng)行业中至关重要，确保产品的一(yi)(yi)致性和质(zhi)量控制。
泉(quan)科瑞达(da)薄(bo)膜测厚(hou)仪设计遵循如GB/T6672等(deng)国家(jia)标准，分辨率可达(da)0.01μm，适用于不(bu)同硬度的薄(bo)膜。
